AFM

MIKROSKOP SIŁ ATOMOWYCH (AFM)
Mikroskop Sił Atomowych AFM firmy Park Systems (USA) Park NX10 umożliwia obserwację/analizę powierzchni ciał stałych w powiększeniu, w trzech wymiarach oraz wizualizację/określenie właściwości nanomechanicznych badanych materiałów.

Cechy i zalety mikroskopu AFM
• Pozwala na generowanie trójwymiarowych obrazów powierzchni próbek
• Posiada możliwość dokładnego zmierzenia rozmiarów obiektów występujących na powierzchni (w tym także ich wysokości)
• Wyposażony jest w wiele dodatkowych trybów pozwalających przebadać próbki pod kątem ich właściwości mechanicznych, magnetycznych, elektrycznych i termoprzewodzących.

Tryby podstawowe:
• Generują tylko obrazy topografii powierzchni
• Tryb kontaktowy
• Tryb przerywanego kontaktu – pozwala dodatkowo na wygenerowanie obrazów kontrastu materiałowego
• Tryb bezkontaktowy

Dodatkowe tryby:
• Pomiary w cieczy
• Mikroskopia przewodnictwa cieplnego (SThm)
• Mikroskopia przewodnictwa prądowego (CP-AFM)
• Mikroskopia sił magnetycznych (MFM)
• Pomiar lokalnych właściwości mechanicznych, (Spektroskopia F/d, PINPOINT)
• Mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM)
• Mikroskopia sondą Kelvina (KPFM)
• Skaningowy mikroskop tunelowy (STM)
• Pomiary w kontrolowanej temperaturze

Specyfikacja mikroskopu PARK NX 10
• Maksymalny rozmiar skanu – 90x90 μm
• Maksymalna rozmiar skanu w osi Z – 15 μm

Nanoindenter
Dodatkowo pracownia wyposażona jest w nanoindenter Nanomechanics iMicro za pomocą którego można wyznaczać właściwości mechaniczne próbek (m. in. twardość i moduł elastyczności).
Cechy i zalety nanoindentera:
• Posiada możliwość wyznaczenia twardości i modułu elastyczności w wielu różnych punktach na próbce
• Ma możliwość tworzenia map 2D, dzięki którym można zobaczyć jak zmieniają się właściwości mechaniczne próbki na danym obszarze
• Może on wykonywać pomiary z maksymalna siłą nacisku dochodzącą do 50 mN

Wymagania dotyczące próbki
• maksymalna wysokość próbki – 15 mm
• maksymalna szerokość próbki – 50 mm (zalecane mniejsze rozmiary do 5 mm)
• próbki możliwie płaskie lub o relatywnie małej chropowatości

Jeżeli chcesz zlecić wykonanie analizy, skontaktuj się z nami:
tel. 61 665-3547 lub e-mail: przemyslaw.bartczak@put.poznan.pl
Politechnika Poznańska, Instytut Technologii i Inżynierii Chemicznej, Zakład Polimerów

Dokumenty niezbędne do zlecenia badań znajdują się na stronie.